樣品污染或雜質過多
樣品中含有高沸點雜質、顆粒物或水分,會污染色譜柱和進樣口,導致柱效下降、基線漂移、峰形畸變,甚至損壞色譜柱。
進樣量過大或濃度過高
超過色譜柱和檢測器的承載能力,會導致峰形拖尾、分叉,甚至出現過載,影響分離效果和定量準確性。
溶劑選擇不當
使用與色譜柱不兼容的溶劑,會溶解或損傷固定相,導致柱流失和分離性能下降。
進樣速度過慢或進樣針殘留
會導致樣品峰展寬,影響分離度和重復性。進樣針未充分清洗會造成樣品交叉污染。
分流比設置不合理
分流比過大,會導致微量組分檢測不到;分流比過小,會導致峰形過載。
柱溫設置不當
柱溫過高會加速固定相流失,縮短柱壽命;柱溫過低則會導致分離時間過長、峰形展寬。程序升溫速率過快,也會影響分離效果。
色譜柱老化不充分或老化過度
新柱或長期未用的柱子未充分老化,會導致基線噪聲大、漂移;老化溫度超過柱子耐受溫度,會直接損壞固定相。
載氣純度不足或流量不穩定
載氣中含有氧氣、水分等雜質,會氧化和水解固定相,導致柱流失。載氣流量波動會影響保留時間和峰面積的重復性。
檢測器溫度或參數設置不當
例如,FID 檢測器的氫氣、空氣流量比例不當,會導致火焰不穩定、基線噪聲增大;ECD 檢測器的放射源污染,會導致靈敏度下降。
檢測器污染
樣品中的高沸點物質或殘留溶劑會污染檢測器,導致基線漂移、靈敏度降低,甚至出現鬼峰。
環境溫度、濕度波動大
會影響儀器電子元件的穩定性,導致基線漂移和檢測數據波動。
未定期維護
如未定期更換進樣墊、清洗進樣口、更換載氣過濾器,會導致漏氣、污染,影響儀器性能。




